RealDrop®TrueDrop®表面清洁度测量仪
- 更新时间：2025-02-25
- 产品型号：LCD1000
- 厂商性质：生产厂家
- 产品品牌：KINO
- 产品厂地：上海市
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产品介绍
美国j9com九游会（KINO Scientific）推出的 LCD系列表面清洁度刨析仪，专为电子制造与材料科学商界设计，通过精确量化液滴在液晶屏、晶圆、芯片及PCB表面的接触角，实现对等离子体（Plasma）处理效果、表面能分布及清洁度的科学评价。本系统基于界面化学刨析原理，结合高分辨率光学成像与智能算法，为表面处理工艺改善提供关键数据支持。
RealDrop®TrueDrop®表面清洁度测量仪LCD1000核心组成与技术特性
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主机配置：可选自动（LCD1000A）或手动（LCD1000M）样品台，支持行程定制（最大兼容φ300mm晶圆），适配半导体、微电子及显示面板行业需求。
光学系统：远心镜头（0.7-4.5×变焦）与平行冷光源协同工作，接触角测量精度±0.1°，重复性误差在≤0.5°。
CAST2.0®专业刨析平台
集成Young-Laplace方程拟合与动态接触角追踪技术，支持等离子体处理后表面亲水性变化的量化刨析。
一键生成清洁度评价报告，满足质量控制（QC）与攻关验证需求。
RealDrop®TrueDrop®表面清洁度测量仪LCD1000应用场景与附加值
工艺改善：精准评价等离子体处理、UV/O?清洗等工艺对表面自由能的影响，指示参数调优。
缺陷检测：识别晶圆镀膜不均、PCB焊盘污染等微观缺陷，改进产品良率。
攻关验证：为超疏水涂层、抗指纹玻璃等新材料开发提供润湿性数据支撑。
服务与定制化规划
提供样品台尺寸、控温�？椋�-20℃~200℃）及真空环境腔室等定制选项，适配特殊实验条件。
j9com九游会专业技术队伍支持全生命周期服务，包含方法开发、数据解读与合规性指示。
科学定义表面品质，驱动周密制造升级
LCD系列——以数据赋能表面处理工艺的每一次进步。
应用场景与附加值
工艺改善：精准评价等离子体处理、UV/O?清洗等工艺对表面自由能的影响，指示参数调优。
缺陷检测：识别晶圆镀膜不均、PCB焊盘污染等微观缺陷，改进产品良率。
攻关验证：为超疏水涂层、抗指纹玻璃等新材料开发提供润湿性数据支撑。
功能实现与技术程序
一、定位与运动控制
测试前准备
控制注射泵沿XY轴平移至安全区（避让距离可预设），确保装样操作无机械干涉。
通过XYZ三轴周密导轨调节进样器与镜头空间位置，结合俯仰角度微调（±0.1°），实现亚像素级成像清晰度。
镜头升降（Z轴）行程范围0-50mm，分辨率10μm，适配5mm至300mm样品厚度。
光学对焦校准
样品台避让模式
动态测试控制
Z轴闭环控制液滴释放高度，协同PTFE超疏水针头（内径0.1mm），液滴体积控制精度0.02μL（CV≤1.5%）。
XY轴自动定位（重复精度±2μm），支持10×10网格化采样，单次测试覆盖面积100×100mm。
多点位扫描
液滴精准转化
二、液滴形态刨析与计算
图像捕获与预处理
采用300万像素CMOS相机（87-340 fps）捕捉液滴轮廓，内置UV滤波片消除环境光干扰。
实时边缘增强算法改进液-固-气三相线识别精度至亚像素级（±0.1像素）。
接触角计算模型
内置倾角传感器数据融合算法，自动校正镜头俯仰偏差（0-15°），补偿后角度误差在≤0.2°。
通过非线性最小二乘法拟合Young-Laplace方程，适配疏水表面（θ>90°）及非对称液滴，理论吻合度R?>0.995。
基于液滴宽高比快速计算静态接触角，适用于亲水表面（θ<90°），计算误差在≤0.5°。
θ/2法（WH法）
椭圆拟合法
俯视角度补偿
三、质量控制与标准化
数据可追溯性
每帧图像附带接触角值、拟合曲线等元数据，符合ISO数据完整性要求。
动态过程监控
支持液滴铺展/回缩过程录像（AVI格式），帧率与接触角变化曲线同步标记，便于工艺失效刨析。
技术优势总结
周密运动：六轴联动控制，定位精度达微米级
智能算法：双模型自适应计算，覆盖5°-175°接触角范围
合规设计：数据采集与报告格式符合ASTM标准
特别声明：
1、以上图片资料以及技术参数因设计而进行的更改，不再另行通知，以最新确认的产品资料为准。
2、如需详细水滴角刨析技术的资料和水滴角测试标准，请联系j9九游会国际的技术工程师。
3、详细报价根据采购规划另行报价。
4、如需要特殊尺寸样品或特殊需求，j9九游会国际可定制产品，但需要你支付定金。
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CAST®、阿莎®、ADSA®、TrueDrop®、RealDrop®、TheDrop®、MicroDrop®、LMCA®、Shsolon®、梭伦®为上海梭伦注册商标。
如上商标用于接触角测量仪、表面张力仪、界面张力仪的商品或服务。侵权必究！
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